साइन वाइब्रेशन टेस्ट के लिए शर्तें कैसे निर्धारित करें?

सीनस वाइब्रेशन परीक्षण एक मौलिक यांत्रिक पर्यावरणीय परीक्षण है जिसका उद्देश्य सीनस वाइब्रेशन के प्रभावों का अनुकरण करना है जो परिवहन, भंडारण,और नियंत्रित प्रयोगशाला सेटिंग में वास्तविक उपयोगये कंपन अक्सर विमानों, वाहनों, जहाजों, हवाई उपकरणों और जमीनी मशीनरी जैसे स्रोतों से उत्पन्न घूर्णन, धड़कन या दोलन बल से प्रेरित होते हैं।साइनस कंपन परीक्षण की गंभीरता, या उसकेकठोरता का स्तर, तीन प्रमुख मापदंडों द्वारा संयुक्त रूप से परिभाषित किया जाता हैःआवृत्ति,व्याप्ती, औरपरीक्षण की अवधि.

डोंगगुआन प्रेसिजन टेस्ट इक्विपमेंट कं, लिमिटेड में, हम परीक्षण मानकों की एक विस्तृत श्रृंखला को पूरा करने के लिए उन्नत कंपन परीक्षण प्रणाली प्रदान करते हैं।सही और सार्थक उत्पाद मूल्यांकन के लिए इन महत्वपूर्ण परीक्षण स्थितियों को निर्धारित करने के तरीके को समझना आवश्यक हैआइए मुख्य पहलुओं को तोड़ते हैं।

I. आवश्यक शब्दों की परिभाषा (जीबी/टी 2298-2010 के आधार पर)

स्पष्टता सुनिश्चित करने के लिए, चलो यांत्रिक कंपन, सदमे और स्थिति निगरानी के लिए चीनी राष्ट्रीय मानक के अनुसार कुछ प्रासंगिक शब्दों को परिभाषित करते हैंः

1. सिनोइडल कंपन:एक आवधिक कंपन जिसका कंपन पैरामीटर समय के सीन फलन द्वारा वर्णित है।
2. आवृत्ति (f):अवधि का पारस्परिक, हर्ट्ज (हर्ट्ज) में मापा जाता है, जो प्रति सेकंड चक्रों का प्रतिनिधित्व करता है।
3. आयाम:
   • विस्थापन (सम्बन्धी विस्थापन):संदर्भ फ्रेम के सापेक्ष किसी वस्तु पर एक बिंदु की स्थिति में परिवर्तन का प्रतिनिधित्व करने वाली समय-परिवर्तित मात्रा।
   • पीक-टू-पीक वैल्यू (एक कंपन की):एक निश्चित समय अंतराल के भीतर कंपन के अधिकतम सकारात्मक और अधिकतम नकारात्मक मूल्यों के बीच का अंतर। इसकी परिमाण माप प्रणाली की प्रतिक्रिया या वृद्धि समय पर निर्भर करती है।
4. क्रॉस-ओवर आवृत्तिःवह आवृत्ति जिस पर कंपन की विशिष्ट विशेषता एक संबंध से दूसरे संबंध में संक्रमण करती है। उदाहरण के लिए,वो आवृत्ति जिस पर कंपन आयाम या आरएमएस मूल्य स्थिर विस्थापन-आवृत्ति-आवृत्ति संबंध से स्थिर त्वरण-आवृत्ति संबंध में बदलता है.

II. मानकों के परिदृश्य में नेविगेट करना

विभिन्न देशों, क्षेत्रों और उद्योगों में भिन्न होने वाले कंपन परीक्षण मानकों की एक भीड़ मौजूद है। कुछ प्रमुख मानक संगठनों और उनके ढांचे में शामिल हैंः एएसटीएम, आईएसटीए, एमआईएल-एसटीडी, एन, आईईसी,ईटीएसआई, जेआईएस, एसएई, जेएएसओ, आईएसओ और एईसी।

आम तौर पर संदर्भित साइन कंपन परीक्षण मानकों में शामिल हैंः

• GB/T 2423.10-2008: विद्युत और इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों के लिए पर्यावरण परीक्षण - भाग 2: परीक्षणविधियाँ - परीक्षण Fc: कंपन (सिनोसाइडल)
• आईईसी 60068-2-6-2007: पर्यावरणीय परीक्षण - भाग 2-6: परीक्षण - परीक्षण Fc: कंपन (सिनोसाइडल) 
   

   
• ISO 8318:2000: पैकेजिंग - पूर्ण, भरा हुआ परिवहन पैकेज और इकाई भार - परिवर्तनशील आवृत्ति का उपयोग करके कंपन परीक्षण
• GB/T 4857.10-2005: पैकेजिंग - परिवहन पैकेज के लिए बुनियादी परीक्षण - भाग 10: सिनोसाइडल चर आवृत्ति कंपन परीक्षण विधि

III. परीक्षण विधियों को समझनाः स्वीप साइन बनाम फिक्स्ड फ्रीक्वेंसी

सीनस कंपन परीक्षण के भीतर दो प्राथमिक परीक्षण विधियों का प्रयोग किया जाता हैः

1. सफाया हुआ सीन टेस्ट:

इस पद्धति में एक या दो कंपन मापदंडों (विस्थापन, वेग,या त्वरण) एक निश्चित सीमा के भीतर लगातार कंपन आवृत्ति को भिन्न करते हुए एक स्थिर स्तर पर. झांकना हो सकता हैः

• रैखिक स्वीप:आवृत्ति समय के साथ रैखिक रूप से बदलती है (उदाहरण के लिए, हर्ट्ज/सेकंड या हर्ट्ज/मिनट) । इसका उपयोग अक्सर प्रतिध्वनित आवृत्तियों की पहचान करने के लिए किया जाता है।
• लॉगरिथमिक स्वीप:आवृत्ति समय के साथ लघुगणकीय रूप से बदलती है (उदाहरण के लिए, ऑक्ट / मिनट या डेक / मिनट) । प्रति मिनट एक अष्टकोण की स्वीप दर का मतलब है कि आवृत्ति हर मिनट दोगुनी (या आधे) होती है।धीरज परीक्षण के लिए लॉगरिथमिक स्वीप का प्रयोग अक्सर किया जाता है, क्योंकि वे आवृत्ति दशकों में समान समय बिताते हैं, जिसके परिणामस्वरूप कम आवृत्तियों पर धीमी स्वीप होती है और उच्च आवृत्तियों पर तेज़ स्वीप होती है।

स्वीप साइन परीक्षण मुख्य रूप से निम्नलिखित के लिए प्रयोग किया जाता हैः

• कंपन प्रतिक्रिया विश्लेषण (गूंज खोज):किसी उत्पाद की प्राकृतिक आवृत्तियों (प्रतिध्वनियों) की पहचान करना और कंपन पृथक्करण या सुदृढीकरण की आवश्यकता वाले क्षेत्रों को निर्धारित करने के लिए संचालन के दौरान इसकी स्थिरता का आकलन करना।
• सहनशीलता स्वीप साइन टेस्टःजब किसी उत्पाद में उसके परिचालन आवृत्ति दायरे के भीतर कोई महत्वपूर्ण प्रतिध्वनियां नहीं होती हैं, या कई मामूली प्रतिध्वनियां होती हैं, तो एक धीरज स्वीप किया जाता है।इसमें आमतौर पर निम्न आवृत्तियों पर निरंतर विस्थापन आयाम और उच्च आवृत्तियों पर निरंतर त्वरण आयाम के साथ एक लघुगणकीय स्वीप शामिल होता है, एक क्रॉस-ओवर आवृत्ति के साथ आमतौर पर 55-72 हर्ट्ज के बीच और एक अष्टक प्रति मिनट की स्वीप दर के साथ।
• धीरज के बाद अनुनाद जांचःयह निर्धारित करने के लिए कि क्या किसी भी अनुनाद आवृत्तियों में बदलाव हुआ है, जो संभावित संरचनात्मक परिवर्तनों या गिरावट का संकेत देता है, धीरज परीक्षण के बाद प्रारंभिक अनुनाद खोज को दोहराएं।

2स्थिर आवृत्ति परीक्षण:

इस पद्धति में अन्य कंपन मापदंडों (व्यापकता) के भिन्न स्तरों के साथ विशिष्ट, निश्चित आवृत्ति बिंदुओं पर परीक्षण नमूने को कंपन के अधीन करना शामिल है। इसका मुख्य रूप से उपयोग किया जाता हैः

• अनुनाद निवास परीक्षणःउत्पाद की प्राकृतिक आवृत्ति पर लंबे समय तक कंपन का सामना करने की क्षमता का मूल्यांकन करने के लिए अनुनाद खोज के दौरान पहचाने गए एक महत्वपूर्ण अनुनाद आवृत्ति पर कंपन करना।
• पूर्व निर्धारित आवृत्ति परीक्षण:उन विशिष्ट परिस्थितियों में उत्पाद के प्रदर्शन और स्थायित्व का आकलन करने के लिए उत्पाद के वास्तविक परिचालन वातावरण में ज्ञात कंपन आवृत्तियों का अनुकरण करना।

IV. परीक्षण स्थितियों का निर्धारण (गंभीरता स्तर)

उपयुक्त परीक्षण स्थितियों (आवृत्ति, आयाम और अवधि) का चयन एक प्रासंगिक और प्रभावी साइन कंपन परीक्षण के लिए महत्वपूर्ण है।

1आवृत्ति और आवृत्ति सीमाः

• कुछ मानक (विशेषकर सैन्य मानक) सीधे उत्पाद के परिचालन वातावरण के आधार पर परीक्षण आवृत्ति या आवृत्ति सीमा निर्दिष्ट करते हैं।
• वाणिज्यिक मानक अक्सर विभिन्न दृष्टिकोणों का उपयोग करके आवृत्ति सीमा को परिभाषित करते हैं।

आवृत्ति सीमा निर्धारित करने के लिए विचारः

• परिवहन या संचालन के दौरान उत्पादों को बहुत कम कंपन आवृत्तियों का अनुभव हो सकता है (उदाहरण के लिए, 1.5-4 हर्ट्ज के आधारभूत आवृत्तियों के साथ वाहन-माउंटेड उपकरण) ।मानक कंपन परीक्षण उपकरण पर सटीक निम्न आवृत्ति कंपन (१ हर्ट्ज से कम) प्राप्त करना तरंग रूप विकृति के कारण चुनौतीपूर्ण हो सकता है.
• आवृत्ति सीमा को परिभाषित करते समय, उपलब्ध कंपन परीक्षण प्रणाली की क्षमताओं पर विचार करना आवश्यक है। हाइड्रोलिक शेकर अक्सर कम आवृत्तियों (1-200 हर्ट्ज) के लिए उपयुक्त होते हैं,जबकि इलेक्ट्रोडायनामिक शेकर्स एक व्यापक रेंज (आमतौर पर 0-3000 हर्ट्ज) में उत्कृष्ट हैंआधुनिक प्रणालियों के लिए 5-10 हर्ट्ज के आसपास की निचली सीमाओं के साथ) ।इलेक्ट्रोडायनामिक शेकर्स का उपयोग करते समय निचली आवृत्ति सीमा पर समझौता आवश्यक हो सकता है.

2व्याप्ती और उसका चयन:

सीनस कंपन परीक्षण में, आयाम या तो विस्थापन (शीर्ष या शिखर से शिखर) या त्वरण (शीर्ष) द्वारा परिभाषित किया जाता है। कुछ मानक केवल विस्थापन निर्दिष्ट करते हैं, जबकि अन्य दोनों प्रदान करते हैं।

• केवल विस्थापन आयामःआईईसी और राष्ट्रीय मानक अक्सर 10 हर्ट्ज की ऊपरी आवृत्ति सीमा वाले परीक्षणों के लिए केवल विस्थापन आयाम निर्दिष्ट करते हैं।इलेक्ट्रॉनिक और विद्युत घटकों के लिए कुछ सैन्य मानकों में एक निरंतर विस्थापन आयाम (ई) निर्दिष्ट किया गया है।उदाहरण के लिए, 0.75 मिमी एकल आयाम) एक विशिष्ट आवृत्ति सीमा (जैसे, 10-55 हर्ट्ज) के भीतर।
• संयुक्त विस्थापन और त्वरण आयाम:वास्तविक दुनिया के कंपन परिदृश्यों में, निम्न आवृत्तियों में आमतौर पर बड़े विस्थापन आयाम होते हैं, जबकि उच्च आवृत्तियों में बड़े त्वरण आयाम होते हैं। Modern sine vibration testing attempts to approximate this by using a constant displacement amplitude at lower frequencies (referred to as "constant displacement") and a constant acceleration amplitude at higher frequencies ("constant acceleration")वह आवृत्ति जिस पर नियंत्रण मोड निरंतर विस्थापन से निरंतर त्वरण में संक्रमण करता है, उसे गति कहा जाता है।क्रॉस-ओवर आवृत्तिआईईसी और राष्ट्रीय मानक अक्सर दो क्रॉस-ओवर आवृत्तियों को परिभाषित करते हैंः8-9 हर्ट्ज के आसपास एक निचला (मुख्य रूप से जहाज के उपकरण के लिए) और 57-62 हर्ट्ज के आसपास एक उच्च (मुख्य रूप से भूमि आधारित और हवाई उपकरणों के लिए).

3परीक्षण की अवधि और उसका चयन:

परीक्षण अवधि किसी उत्पाद की कंपन प्रतिरोधक क्षमता का आकलन करने के लिए एक महत्वपूर्ण पैरामीटर है।एक दी गई प्रयोगशाला परीक्षण अवधि के लिए वास्तविक दुनिया के समकक्ष जोखिम समय का निर्धारण चुनौतीपूर्ण हो सकता है.

• स्वीप साइन परीक्षणों के लिए, अवधि आमतौर पर स्वीप चक्रों की संख्या द्वारा निर्दिष्ट की जाती है।
• स्थिर आवृत्ति परीक्षणों के लिए, अवधि आमतौर पर मिनटों या घंटों में दी जाती है।
• आईईसी और राष्ट्रीय मानक स्वीप चक्र के स्तरों (जैसे 1, 2, 5, 15, 20, 50, 100) और निश्चित आवृत्ति परीक्षण अवधि (जैसे, 10 मिनट, 30 मिनट, 1 घंटा, 1.5 घंटा, 2 घंटे, 10 घंटे) की एक श्रृंखला प्रदान करते हैं।माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों और इलेक्ट्रॉनिक/इलेक्ट्रिकल घटकों के लिए सैन्य मानक अक्सर 12 चक्र (तीन अक्ष) या 36 चक्र (तीन अक्ष) निर्दिष्ट करते हैं. झाँके हुए साइन परीक्षण के लिए एक सामान्य स्वीप दर प्रति मिनट एक अष्टक है.

परीक्षण अवधि का विशिष्ट चयन आम तौर पर परीक्षण अवधि के आधार पर किया जाता है।विफलता तंत्रजांच के अधीन:

• प्रदर्शन पर प्रभाव:यदि ध्यान अस्थायी प्रदर्शन गिरावट (जैसे, खराबी, अस्थिरता) पर है जो कंपन बंद होने के बाद ठीक हो जाती है,परीक्षण की अवधि व्यावहारिक अनुभव के साथ संयुक्त सबसे लंबे अपेक्षित निरंतर संचालन समय पर आधारित हो सकती है.
• संरचनात्मक अखंडता:संरचनात्मक क्षति का आकलन करने के लिए (उदाहरण के लिए, सोल्डर जोड़ की विफलता, ढीले शिकंजा, कनेक्टर अलग होने, घटक टक्कर), कम अवधि (उदाहरण के लिए,30 मिनट से 1 घंटे) ऐसे मुद्दों को प्रकट करने के लिए पर्याप्त हो सकता हैपेंच ढीला होने, कनेक्टर अलग होने और घटक टकराव के लिए, सबसे लंबे निरंतर संचालन समय पर भी विचार किया जा सकता है। कुछ मामलों में, उत्पाद का पूरा जीवन काल प्रासंगिक हो सकता है।
• संचयी तनाव (थकान):संचित तनाव का सामना करने के लिए एक उत्पाद की क्षमता निर्धारित करने के लिए,परीक्षण की अवधि उसके सेवा जीवन के दौरान अपेक्षित तनाव चक्रों की संख्या या एक अनंत जीवन मानदंड पर आधारित होना चाहिए (ई10^7 तनाव चक्र) ।

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उचित साइन कंपन परीक्षण स्थितियों का निर्धारण करने के लिए उत्पाद के इच्छित वातावरण, प्रासंगिक उद्योग मानकों और संभावित विफलता तंत्र की गहन समझ की आवश्यकता होती है।डोंगगुआन परिशुद्धता परीक्षण उपकरण कंपनी में., लिमिटेड, हमारी अनुभवी टीम आपके विशिष्ट अनुप्रयोग के लिए इष्टतम आवृत्ति, आयाम और अवधि का चयन करने में विशेषज्ञ मार्गदर्शन प्रदान कर सकती है,सटीक और सार्थक कंपन परीक्षण परिणाम सुनिश्चित करनाअपनी आवश्यकताओं पर चर्चा करने और हमारे उन्नत कंपन परीक्षण प्रणालियों का पता लगाने के लिए आज ही हमसे संपर्क करें।